Welltronics Technology Limited

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Sonda SRP-4 de superfície para hitachi cmi700
Sonda SRP-4 de superfície para hitachi cmi700
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Sonda SRP-4 de superfície para hitachi cmi700

$1200≥1Piece/Pieces

Tipo de pagamento:T/T,Paypal
Incoterm:FOB,CIF,EXW,FCA,DDU
Quantidade de pedido mínimo:1 Piece/Pieces
transporte:Express,Air
porta:SHENZHEN
Atributos do produto

ModeloSRP-4

marcaHitachi (Oxford)

Lugar De OrigemEstados Unidos

ModelSRP-4

Suit For Machine ModelCMI700,CMI563

marcaHitachi(Oxford)

Embalagem & Entrega
Unidades de venda : Piece/Pieces
Tipo de pacote : Individual embalado por PE Bag, 1 PCS/Box
Exemplo de imagem :

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Sonda Hitachi SRP-4
Descrição do produto

A sonda SRP-4 é uma parte sobressalente do CMI700 (CMI760), instrumento CMI563, sonda CMI700 usada para testar a espessura da Surface Cu.


Dados da sonda SRP-4 de superfície Cooper :

Cooper químico : 10 μin - 500 μin (0,25 μm - 12,7 μm)

Cooper eletroplatante : 0,1 mil - 6 mil (2,5 μm - 152 μm)

Lind com faixa : 8 mil - 250 mil (203 μm - 6350 μm)

precisão : ± 1% (± 0,1 μm) de acordo com a placa padrão

Uma ccuracy da sonda Hitachi SRP-4:

Cooper químico : Desvio padrão 0,2 %

Cooper eletroplinado : Desvio padrão 0,5 %

Resolução : 0,01 mils ≥ 1 mil, 0,001 mils <1 mil,

0,1 μm ≥ 10 μm, 0,01 μm <10 μm, 0,001 μm <1 μm


Brand Hitachi
Used on Oxford/Hitachi CMI563,CMI700,CMI760 instrument
Model SRP-4 Probe
MOQ 1 PCS
Lead time have stock


Sobre o testador de espessura de cobre de superfície/orifício CMI700:

O CMI 760 pode ser usado para medir a espessura da superfície de cobre e cobre nas perfurações. Este sistema de bitola de espessura de bancada altamente escalável usa métodos de microResrocerância e corrente de Foucault para obter medições precisas e precisas da espessura do cobre na superfície e no interior do orifício. O sistema de medição de bancada CMI 700 é extremamente versátil e escalável, e sua compatibilidade com uma variedade de sondas permite atender às necessidades de uma variedade de aplicações, incluindo a medição de cobre de superfície, cobre em perfurações e cobre em microes espessura, e bem como cobre em orifícios testes de qualidade.
Ao mesmo tempo, o CMI 760 possui funções estatísticas avançadas para a análise dos dados de teste.

Srp 4 ProbeSrp 4 Probe TipSrp 4 Probe Tips

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